半导体形成
pn当p - 和n - 类型的同一材料的p - 和n - 类型的半导体连接在一起以形成同型pn交界处形成。
由于载体向相对侧迁移,电子从交界处迁移到相反的侧面,因此载体层的耗竭层偏向于载体,该层迁移到相反的侧面,该侧面从接线附近的受体杂质原子迁移并变得负电离。同样,供体杂质原子在n - 侧面靠近PN连接处 - 侧面有积极的电离,因此产生了潜在的障碍物或真实的电池。
向前偏置外部电池的正端子是否连接到p - 类型和负端子与n型宽度降低。
反向偏置,如果外部电池的正末端是否连接到N - 类型和负端子与P - 类型的负端子。潜在的障碍增加。缺失层宽度增加,电流是由于少数载体引起的。
请注意,当向前偏向电压时,屏障电势,大电流流以及反向偏向很小的电流流动时。因此,PN连接的行为非常像一个价值
电流方程pn交界处
i = is[ev/vt-这是给出的
在哪里反向饥饿电流,V =应用电位vt=热电压
vt= kt/e = 0.026V在300 K.
其中k是玻尔兹曼的常量是电子的温度,而e是电荷。
动态或增量抗性
r =?v/?i = dv/di
称为动态电阻
从二极管的方程式
d我/dv= is/vte v/nt= i/vt
如果二极管是前向偏见的
或r = Dv/d我= vt/i如果i = i mA然后rF= 26 O(低)。
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